测材料表面基团的方法

来源：六三科技网

表面增强拉曼光谱（SERS）、原子力显微镜（AFM）。
测材料表面基团的方法包括表面增强拉曼光谱（SERS）、原子力显微镜（AFM）、X射线衍射（XRD）、X射线光电子能谱（XPS）和紫外-可见吸收光谱（UV-Vis）。
基因是产生一条多肽链或功能RNA所需的全部核苷酸序列。基因支持着生命的基本构造和性能。

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